2008年04月18日
第6回 分析・評価技術公開セミナーの開催について

1.セミナーの趣旨
「NEDO光集積ラボラトリー」では、将来の先端分野や融合分野の技術を支える人材を育成することを目的として、「ナノテク材料」、「光技術」等に関連する分析・評価・実験測定技術に係るセミナーをシリーズで開催しております。
今回は、㈱KRI様より、固体表面の微小分析技術に関する基本的な事項とその応用事例や最新のトピックスをご紹介いただきます。表面微小分析測定はいくつか方法がありますが、分析目的とそのための最適手段の選択はなかなか悩ましい問題です。今回は各表面分析法の特徴とFIBによる微小加工、高分解能SEMによる微小組織観察、FE-EPMAによる微小元素分析を有機的に組み合わせた分析事例をお話いただく予定です。ふるってご参加下さい。
2.セミナーの概要
日時:平成20年5月14日(水) 13:30~16:30
場所:京都大学桂キャンパス ローム記念館 3Fセミナー室
参加対象者:企業大学等の技術者・研究開発者(専門分野は不問)40名程度 先着順
申込み方法:以下の内容を事務局(連絡先:杉渕 sugi@icc.kyoto-u.ac.jp)までご連絡願います。
①御芳名 ②御所属先・役職 ③御連絡先(電話番号、e-mailアドレス)
参加料:無料
問合せ先:NEDO光集積ラボラトリー事務局 (担当:水島)
Tel/Fax : 075-383-3093/3029
e-mail : mizushima@icc.kyoto-u.ac.jp
プログラム
13:30-13:40 挨拶
平尾 一之 京都大学大学院工学研究科 教授(NEDO光集積ラボラトリー総括責任者)
13:40-15:00 講演1「表面微小分析の基礎」
湯浅 俊郎 株式会社KRI 分析評価センター
15:10-16:20 講演2「表面微小分析の応用事例、最新トピックス」
本間 秀和 株式会社KRI 分析評価センター 主任研究員
16:20-16:30
質疑・応答
〔株式会社CSセンターHome〕
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